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快速升降溫試驗箱溫度變化率一般在5~20℃/分之間,實現(xiàn)以較快的速度真實再現(xiàn)所測樣件應用環(huán)境條件,一般應用于光電器件、互連電路、組件單元及電子設備的篩選試驗和失效模式評估。是發(fā)現(xiàn)產品設計缺陷和工藝問題的有效方法。
高低溫快速升降溫試驗箱溫度變化率一般在5~20℃/分之間,實現(xiàn)以較快的速度真實再現(xiàn)所測樣件應用環(huán)境條件,一般應用于光電器件、互連電路、組件單元及電子設備的篩選試驗和失效模式評估。是發(fā)現(xiàn)產品設計缺陷和工藝問題的有效方法。
快速溫變老化試驗箱主要用于考察各種工業(yè)制品熱機械性能引起的失效,當構成產品各部件的材料熱匹配較差,或部件內應力較大時,溫度循環(huán)試驗可引發(fā)產品由機械結構缺陷劣化產生的失效。
快速溫變測試箱溫度變化率一般在5~20℃/分之間,實現(xiàn)以較快的速度真實再現(xiàn)所測樣件應用環(huán)境條件,一般應用于光電器件、互連電路、組件單元及電子設備的篩選試驗和失效模式評估。是發(fā)現(xiàn)產品設計缺陷和工藝問題的有效方法。
快速溫變應力試驗箱溫度變化率一般在5~20℃/分之間,實現(xiàn)以較快的速度真實再現(xiàn)所測樣件應用環(huán)境條件,一般應用于光電器件、互連電路、組件單元及電子設備的篩選試驗和失效模式評估。是發(fā)現(xiàn)產品設計缺陷和工藝問題的有效方法。
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